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三維光學(xué)輪廓儀
BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
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布魯克輪廓儀:半導(dǎo)體行業(yè)測量適配 半導(dǎo)體行業(yè)對產(chǎn)品表面精度的要求貫穿芯片設(shè)計(jì)、制造到封裝的全流程,從晶圓表面的微納米級缺陷檢測,到芯片封裝后的引腳平整度測量,都需要能捕捉細(xì)微特征的三維光學(xué)測量設(shè)備。ContourX-500 三維光學(xué)輪廓儀憑借高分辨率與穩(wěn)定性能,成為半導(dǎo)體行業(yè)中多種測量場景的適配選擇,為關(guān)鍵環(huán)節(jié)的質(zhì)量控制提供支持。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:ContourX-500
瀏覽量:292
布魯克輪廓儀:入門級三維測量利器 在精密測量需求日益普及的當(dāng)下,并非所有用戶都需要復(fù)雜功能的設(shè)備。對于剛接觸三維光學(xué)測量的科研團(tuán)隊(duì)、中小型制造企業(yè),或是僅需基礎(chǔ)表面檢測的場景,一款操作簡單、性價比高且性能可靠的儀器尤為重要。ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀,正是為這類需求量身打造的入門級產(chǎn)品,以簡潔設(shè)計(jì)與實(shí)用功能,降低三維測量門檻。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:ContourX-100
瀏覽量:239
布魯克輪廓儀:中小量程測量優(yōu)選 在精密測量領(lǐng)域,并非所有場景都需要超大量程的檢測設(shè)備,中小量程的精準(zhǔn)測量需求同樣廣泛。無論是電子元器件的微小表面檢測,還是科研實(shí)驗(yàn)中局部微觀結(jié)構(gòu)的分析,都需要一款適配性強(qiáng)、性能可靠的測量儀器。ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀,正是針對這類需求打造,憑借緊湊設(shè)計(jì)與穩(wěn)定性能,成為中小量程測量場景的理想選擇。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:ContourX-200
瀏覽量:255
布魯克?ContourX-500:高效三維光學(xué)輪廓儀 在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時代,對于高精度表面測量的需求愈發(fā)迫切。無論是精密制造、半導(dǎo)體加工,還是科研領(lǐng)域的微觀研究,準(zhǔn)確獲取表面的三維信息至關(guān)重要。而 ContourX-500 三維光學(xué)輪廓儀,正以其出色的性能,成為眾多行業(yè)的得力助手。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
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布魯克光學(xué)輪廓儀醫(yī)療設(shè)備表面 從人工關(guān)節(jié)到眼科植入物,醫(yī)療設(shè)備的表面質(zhì)量直接影響生物相容性與使用壽命。布魯克ContourX-200以其高適應(yīng)性與易用性,成為醫(yī)療行業(yè)表面檢測的優(yōu)選工具。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
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布魯克光學(xué)輪廓儀半導(dǎo)體制造的“透視眼” 在半導(dǎo)體行業(yè),晶圓表面形貌的微小缺陷可能導(dǎo)致器件性能驟降。布魯克ContourX-500憑借其高分辨率與自動化能力,成為前端與后端制造過程的質(zhì)量守護(hù)者。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
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