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布魯克白光干涉儀：輪廓測量新選擇 在材料微觀特性探究、元件質量把控的科研及工業場景里，表面輪廓測量的精度與效率，直接影響著研究進展與產品品質。布魯克白光干涉光學輪廓儀，以其精巧設計與實用功能，成為眾多專業人士信賴的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產品。
更新時間：2026-01-04
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瀏覽量：302
三維光學輪廓儀ContourX-500是全球功能***的自動化臺式系統，可快速完成非接觸式三維表面計量。ContourX-500 具有**的 Z 軸分辨率和準確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業界認可的所有優勢，而占地面積更小
更新時間：2026-01-04產品型號：瀏覽量：1359
三維光學輪廓儀ContourX-200提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的**融合，是同類產品中最快、最準確、可重復性最高的非接觸式三維表面計量系統。該計量系統占地面積小，采用更大視場、5MP 數碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有**的二維/三維高分辨測量能力
更新時間：2026-01-04產品型號：瀏覽量：1136
具備最高性價比的 三維光學輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。
更新時間：2026-01-04產品型號：瀏覽量：1211